菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230技術特性與性能菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230測量能力 采用 DCM(Distance Compensation Method)測量距離補償技術,可在 0-80mm 范圍內自動補償距離變化對精度的影響,確保復雜形狀樣品(如厚度 0.8-3.2mm 的 PCB 板)的測量一致性。元素檢測范圍覆蓋 Cl(17)至 U(92),支持同時分析 24 種元素和 23 層鍍層,例如銅鎳金多層鍍層的每層厚度可精確至 0.001 微米。 菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230硬件配置 高壓調節:30kV、40kV、50kV 三檔可選,適配不同材質和鍍層厚度需求。 準直系統:標配 φ0.3mm 圓形準直器,可選 φ0.1mm、φ0.2mm 及 0.3mm×0.05mm 長方形準直器,實現微米級區域的精準測量。 光學定位:40-160 倍高分辨率 CCD 攝像頭,輔以激光定位和 LED 照明,可通過視頻窗口實時觀察測量點并調整位置。 樣品兼容性:手動 XY 工作臺(420×450mm)和電動 Z 軸(140mm 行程)支持大型扁平樣品(如 PCB 板)及高度達 140mm 的復雜形狀樣品。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230軟件與操作 配套 WinFTM® BASIC 軟件提供全中文界面,支持無標準片校準(基于 FISCHER 基本參數法)和測量數據的實時分析。內置 12 種基準元素(如 Ag、Cu、Fe)頻譜庫,可自動生成帶 MQ 值(測量可信度)的專業報告,閾值≥85% 時觸發警報。

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